|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 20 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
Recent advances in the theory of oxide–semiconductor interfaces 1 1 An earlier version of this paper was presented as an invited paper at the 9th Workshop on Dielectrics in Microelectronics, Toulouse, 11–13 March, 1998. |
| Auteur: |
Edwards, Arthur H. Beall Fowler, W. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 39 (1999) nr. 1 pagina's 12 p. |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 20 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |