|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 37 gevonden artikelen
| Titel: |
INTRODUCTORY INVITED PAPERFailure mechanisms due to metallurgical interactions in commercially available AlGaAs/GaAs and AlGaAs/InGaAs HEMTs |
| Auteur: |
Meneghesso, Gaudenzio Magistrali, Fabrizio Sala, Danila Vanzi, Massimo Canali, Claudio Zanoni, Enrico |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 38 (1998) nr. 4 pagina's 10 p. |
| Jaar: |
1998 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 37 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |