|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
ESD laboratory simulations and signature analysis of a CMOS programmable logic product 1 1 The following is a condensed and revised version of the original paper presented at ISTFA-94: Proceedings of the 20th International Symposium for testing and Failure Analysis, p117 (1994), Henry et al., see ref[26]. |
| Auteur: |
Henry, L.G. Raymond, T. Mahanpour, M. Morgan, I. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 38 (1998) nr. 11 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
1998 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |