Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 4 van 18 gevonden artikelen
 
 
  Genetic algorithms for reliability design problems
 
 
Titel: Genetic algorithms for reliability design problems
Auteur: Hsieh, Yi-Chih
Chen, Ta-Cheng
Bricker, Dennis L.
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 38 (1998) nr. 10 pagina's 7 p.
Jaar: 1998
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Science Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 4 van 18 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland