|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 78 gevonden artikelen
| Titel: |
A new statistical model for fitting bimodal oxide breakdown distributions at different field conditions |
| Auteur: |
Degraeve, R. Roussel, Ph. Ogier, J.L. Groeseneken, G. Maes, H.E. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 36 (1996) nr. 11-12 pagina's 1651-1654 |
| Jaar: |
1996 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 78 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |