|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 71 van 78 gevonden artikelen
| Titel: |
The impact of oxide degradation on the low frequency ( 1 f ) noise behaviour of P channel mosfets |
| Auteur: |
Hurley, Paul K. Sheehan, Eoin Moran, Stephen Mathewson, Alan |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 36 (1996) nr. 11-12 pagina's 1679-1682 |
| Jaar: |
1996 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 71 van 78 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |