Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 52 van 78 gevonden artikelen
 
 
  Relation between yield and reliability of integrated circuits and application to failure rate assessment and reduction in the one digit FIT and PPM reliability ERA
 
 
Titel: Relation between yield and reliability of integrated circuits and application to failure rate assessment and reduction in the one digit FIT and PPM reliability ERA
Auteur: Van Der Pol, Jacob A.
Kuper, Fred G.
Ooms, Eric R.
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 36 (1996) nr. 11-12 pagina's 1603-1610
Jaar: 1996
Inhoud:
Uitgever: Published by Elsevier B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 52 van 78 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland