|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 78 gevonden artikelen
| Titel: |
Comprehensive physical modeling of nmosfet hot-carrier-induced degradation |
| Auteur: |
Lunenborg, M.M. De Graaff, H.C. Mouthaan, A.J. Verweij Mesa, J.F. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 36 (1996) nr. 11-12 pagina's 1667-1670 |
| Jaar: |
1996 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 78 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |