|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of gamma-irradiation induced degradation mechanisms in power VDMOSFETS |
| Auteur: |
Stojadinović, N. Golubović, S. Djorić, S. Dimitrijev, S. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 35 (1995) nr. 3 pagina's 16 p. |
| Jaar: |
1995 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 18 gevonden artikelen
| volgende >> |