|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 135 van 139 gevonden artikelen
| Titel: |
Two unit redundant system with adjustable failure rate, critical human error (CHE) and inspection |
| Auteur: |
Agnihotri, R.K. Chand, Shubhag Mudgal, V.B. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 34 (1994) nr. 8 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
1994 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 135 van 139 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |