Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 22 van 29 gevonden artikelen
 
 
  Reliability and availability analysis of warm standby systems in the presence of chance with multiple critical errors
 
 
Titel: Reliability and availability analysis of warm standby systems in the presence of chance with multiple critical errors
Auteur: Chung, Who Kee
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 34 (1994) nr. 1 pagina's 3 p.
Jaar: 1994
Inhoud:
Uitgever: Published by Elsevier B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 22 van 29 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland