Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 14 van 20 gevonden artikelen
 
 
  Reliability issues in submicron MOSFETs with oxynitride gate dielectrics
 
 
Titel: Reliability issues in submicron MOSFETs with oxynitride gate dielectrics
Auteur: Joshi, Aniruddha B.
Kwong, Dim-Lee
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 33 (1993) nr. 11-12 pagina's 22 p.
Jaar: 1993
Inhoud:
Uitgever: Published by Elsevier B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 14 van 20 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland