|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
A reliability analysis of a k-out-of-N:G redundant system with the presence of chance common-cause shock failures |
| Auteur: |
Who Kee Chung, |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 32 (1992) nr. 10 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1992 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |