|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 141 van 183 gevonden artikelen
| Titel: |
Reliability analysis of two-unit warm standby system with partial failure mode and inspection time |
| Auteur: |
Pandey, D.K. Gupta, S.M. Jaiswal, N.K. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 32 (1992) nr. 1-2 pagina's 3 p. |
| Jaar: |
1992 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 141 van 183 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |