|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 122 gevonden artikelen
| Titel: |
A new empirical distribution for the uncertainty analysis of the top event of a fault tree |
| Auteur: |
Kulkarni, Rajaram N. Sanyasi Rao, V.V.S. Babar, Ashok K. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 30 (1990) nr. 6 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1990 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 122 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |