Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 83 van 153 gevonden artikelen
 
 
  Noise and lifetime measurements in Si p +-i-n power diodes
 
 
Titel: Noise and lifetime measurements in Si p +-i-n power diodes
Auteur:
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 30 (1990) nr. 3 pagina's 616
Jaar: 1990
Inhoud:
Uitgever: Pergamon Press plc
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 83 van 153 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland