Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 58 van 153 gevonden artikelen
 
 
  Interface degradation and dielectric breakdown of thin oxides due to homogeneous charge injection
 
 
Titel: Interface degradation and dielectric breakdown of thin oxides due to homogeneous charge injection
Auteur:
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 30 (1990) nr. 3 pagina's 625
Jaar: 1990
Inhoud:
Uitgever: Pergamon Press plc
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 58 van 153 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland