|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 22 van 144 gevonden artikelen
| Titel: |
Bayesian approach to life testing and reliability estimation under competing exponential failure distributions |
| Auteur: |
Papadopoulos, Alex S. Tiwari, Ram C. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 29 (1989) nr. 6 pagina's 12 p. |
| Jaar: |
1989 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 22 van 144 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |