|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 28 van 46 gevonden artikelen
| Titel: |
Optimal inspection policy with two types of imperfect inspection probabilities |
| Auteur: |
Kaio, Naoto Osaki, Shunji |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 26 (1986) nr. 5 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
1986 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 28 van 46 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |