|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 46 gevonden artikelen
| Titel: |
Evaluation of reliability and M.T.T.F. of a power plant with the aid of Boolean function expansion algorithm |
| Auteur: |
Gupta, P.P. Sharma, R.K. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 26 (1986) nr. 5 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
1986 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 46 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |