Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 121 van 224 gevonden artikelen
 
 
  4539517 Method for testing an integrated circuit chip without concern as to which of the chip's terminals are inputs or outputs
 
 
Titel: 4539517 Method for testing an integrated circuit chip without concern as to which of the chip's terminals are inputs or outputs
Auteur: Flora, LaurenceP
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 26 (1986) nr. 3 pagina's 1 p.
Jaar: 1986
Inhoud:
Uitgever: Published by Elsevier B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 121 van 224 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland