|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 38 gevonden artikelen
| Titel: |
Bayesian shrinkage estimation of reliability in parallel system with exponential failure of the components |
| Auteur: |
Pandey, M. Upadhyay, S.K. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 25 (1985) nr. 5 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1985 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Pergamon Press Ltd. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 38 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |