|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 19 van 47 gevonden artikelen
| Titel: |
Estimation of failure probability from a bivariate normal stress-strength distribution |
| Auteur: |
Mukherjee, S.P. Sharan, L.K. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 25 (1985) nr. 4 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
1985 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 19 van 47 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |