|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 126 van 153 gevonden artikelen
| Titel: |
Simulation properties of the Bayesian and maximum likelihood estimators of availability |
| Auteur: |
Kuo, Way |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 24 (1984) nr. 6 pagina's 12 p. |
| Jaar: |
1984 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 126 van 153 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |