|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 138 van 165 gevonden artikelen
| Titel: |
Study of electron traps in the thin interfacial oxide layer of Al-, Au- and Sn-n GaAs Schottky barriers by detrapping experiments |
| Auteur: | |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 23 (1983) nr. 5 pagina's 1 p. |
| Jaar: |
1983 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 138 van 165 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |