|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 6 gevonden artikelen
| Titel: |
Etude de la fiabilite d'un transistor a effet de champ As Ga pour hyperfrequences par des methodes d'analyse factorielle et de classification automatique |
| Auteur: |
Alain, Lelievre |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 23 (1983) nr. 4 pagina's 15 p. |
| Jaar: |
1983 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 6 gevonden artikelen
| volgende >> |