|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 41 van 136 gevonden artikelen
| Titel: |
Correlation of thin film adhesion with current noise measurements of Ta2N-Cr-Au resistors on sapphire and alumina substrates |
| Auteur: | |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 18 (1978) nr. 5 pagina's 1 p. |
| Jaar: |
1978 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 41 van 136 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |