|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 28 gevonden artikelen
| Titel: |
Reliability of discrete SiC MOSFETs under severe temperature-shock and power cycling tests |
| Auteur: |
Heimler, Patrick Richter, Sandro Lutz, Josef Basler, Thomas |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 173 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 28 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |