|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 28 gevonden artikelen
| Titel: |
Low-voltage Schottky p-GaN HEMT properties under extreme repetitive short-circuit operation conditions: 2DEG pinch-off, stability, aging, robustness and failure-modes analysis |
| Auteur: |
Richardeau, F. Ghizzo, L. Trémouilles, D. Vinnac, S. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 173 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 28 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |