|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 28 gevonden artikelen
| Titel: |
Electrical and reliability characterization with an optimized extrapolation model of two- and three-dimensional metal-insulator-metal decoupling capacitors with ZrAlxOy high-κ dielectric under BEoL-friendly conditions |
| Auteur: |
Falidas, Konstantinos Efstathios Kühnel, Kati Rudolph, Matthias Everding, Maximilian Reck, André Czernohorsky, Malte Heitmann, Johannes |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 173 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Authors |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 28 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |