|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
High-performance, low-area-overhead, and low-delay triple-node-upset self-recoverable latch design based on stacked transistors |
| Auteur: |
Xu, Hui Dai, Yue Ma, Ruijun Liang, Huaguo Huang, Zhengfeng Ni, Tianming Zhang, Chuanjian Chen, Xin Tang, Ye |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 172 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |