|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Effect of load sequence interaction for low ∆T j 's on the reliability of bonded aluminum wires in IGBTs |
| Auteur: |
Halouani, A. Khatir, Z. Lallemand, R. Ibrahim, A. Ingrosso, D. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 171 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |