|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Revised CV characterization technique for interface state evaluation in SiN/n-GaN MIS capacitors: Effects of extraction time, temperature and UV illumination |
| Auteur: |
Hofer, A.M. Koller, C. Modolo, N. Pogany, D. Ostermaier, C. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 169 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Authors |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |