|
Micro-Raman and SEM analyses of failed GaN HEMT multilayer architecture |
|
|
|
Titel: |
Micro-Raman and SEM analyses of failed GaN HEMT multilayer architecture |
Auteur: |
Fazio, Enza Bottari, Cettina Alessandrino, Santi Carbone, Beatrice Adamo, Salvatore Russo, Alfio Latino, Mariangela Conoci, Sabrina Neri, Fortunato Tariq, Ammar Corsaro, Carmelo |
Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
Paginering: |
Jaargang 169 () nr. C pagina's p. |
Jaar: |
2025 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
The Authors |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|