|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 63 gevonden artikelen
| Titel: |
Comparison of electro-thermal-mechanical stress in SiC MOSFETs under several short-circuit types |
| Auteur: |
Yu, Bin Shi, Xingjian Luo, Haoze Wang, Wenbo Chen, Zhiwen Zhang, Min Iannuzzo, Francesco Li, Wuhua |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 168 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 63 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |