|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 63 gevonden artikelen
| Titel: |
A failure mechanism of 1.2 kV/20 A 4H-SiC Schottky barrier diodes under humidity and high reverse bias voltage |
| Auteur: |
Zeng, Fanpeng Wang, Xinyu Wang, Tianlu Cui, Yingxin Cheong, Kuan Yew Linewih, Handoko Han, Jisheng |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 168 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 63 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |