|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 63 gevonden artikelen
| Titel: |
Effect of 2DEG density and Drain/Source Field Plate design on dynamic-RON of 650 V AlGaN/GaN HEMTs |
| Auteur: |
Cioni, M. Giorgino, G. Chini, A. Zagni, N. Cappellini, G. Principato, S. Miccoli, C. Wakrim, T. Castagna, M.E. Constant, A. Iucolano, F. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 168 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 63 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |