|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Driving waveform modification for investigating trade-off between switching loss and gate overshoot in SiC MOSFETs |
| Auteur: |
Chen, Bang-Ren Sung, Cheng Hsiao, Yu-Sheng Yu, Wei-Chen Lin, Wei-Cheng Elangovan, Surya Hsiao, Yi-Kai Kuo, Hao-Chung Tu, Chang-Ching Wu, Tian-Li |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 167 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |