|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Evaluation and thermal ageing of power semiconductor die attachments based on porous film electrodeposition |
| Auteur: |
Janod, G. Chachay, L. Schoenleber, J. Avenas, Y. Bouvard, D. Daudin, R. Missiaen, J.-M. Gigandet, M.-P. Hihn, J.-Y. Khazaka, R. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 167 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |