|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Effects of humidity, ionic contaminations and temperature on the degradation of silicone-based sealing materials used in microelectronics |
| Auteur: |
Mehr, M. Yazdan Hajipour, P. Karampoor, M.R. van Zeijl, H. van Driel, W.D. Cooremans, T. De Buyl, F. Zhang, G.Q. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 164 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |