|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
A comprehensive investigation of total ionizing dose effects on bulk FinFETs through TCAD simulation |
| Auteur: |
Gong, Yanfei Chen, Xingtong Zhao, Qiang Li, Zhensong Li, Yueqin Fan, Jieqing Hao, Jianhong Zhang, Fang Dong, Zhiwei |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 163 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 18 gevonden artikelen
| volgende >> |