|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
Synergistic effects of heating and biasing of AlGaN/GaN high electron mobility transistors: An in-situ transmission electron microscopy study |
| Auteur: |
Al-Mamun, Nahid Sultan Islam, Ahmad Glavin, Nicholas Haque, Aman Wolfe, Douglas E. Ren, Fan Pearton, Stephen |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 160 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |