Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 72 van 170 gevonden artikelen
 
 
  Influence of defects in the silicon wafer on the properties of silicon oxide films formed by reactive sputtering
 
 
Titel: Influence of defects in the silicon wafer on the properties of silicon oxide films formed by reactive sputtering
Auteur:
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 16 (1977) nr. 6 pagina's 1 p.
Jaar: 1977
Inhoud:
Uitgever: Published by Elsevier B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 72 van 170 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland