|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 17 gevonden artikelen
| Titel: |
Transient thermal 2D FEM analysis of SiC MOSFET in short-circuit operation including high-temperature material laws and phase transition of aluminum source electrode |
| Auteur: |
Shqair, Mustafa Sarraute, Emmanuel Cazimajou, Thibauld Richardeau, Frédéric |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 159 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 17 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |