|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Failure analysis of heavy ion-irradiated silicon carbide junction barrier Schottky diodes |
| Auteur: |
Cao, Shuang Yu, Qingkui Wang, Qianyuan Wang, He Sun, Yi Lv, He Mei, Bo Mo, Rigen Li, Pengwei Zhang, Hongwei |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 157 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |