|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
Mechanism of electrical performance deterioration in a-Si:H TFTs caused by source/drain Decap treatment |
| Auteur: |
Chen, Wenxiang Luo, Xu Liu, Dan Ling, Faling Wu, Fang Liu, Gaobin Zhang, Shufang Zhang, Hong Li, Wanjun Fang, Liang |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 156 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 10 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |