|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
Effect of proton irradiation damage on SnAg/Cu microbump simulation using Monte Carlo method |
| Auteur: |
Jing, Xinyi Luo, Keyu Paik, Kyung-Wook He, Peng Zhang, Shuye |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 156 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 10 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |