|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Impact of proton-induced total ionizing dose effects on electrical characteristics and safe operating area of trench field-stop IGBT devices |
| Auteur: |
Liu, Zhenhua Huang, Xiaofeng Mo, Lihua Hu, Zhiliang Lin, Mao Qi, Lina Wang, Haibin |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 154 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |