|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
Total ionizing dose and single event effect response of 22 nm ultra-thin body and buried oxide fully depleted silicon-on-insulator technology |
| Auteur: |
Yin, Yanan Ma, Han Zheng, Qiwen Chen, Jiawei Duan, Xinpei Zhang, Pingwei Zhou, Xinjie |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 152 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |