|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
A breakthrough for temperature and linearity stability from device to circuit-level with 14 nm junctionless SOI FinFET: Advancing K-band LNA performance |
| Auteur: |
Khodabakhsh, Amir Fallahnejad, Mohammad Vadizadeh, Mahdi |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 152 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 19 gevonden artikelen
| volgende >> |